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    XTU-4C涂鍍層厚度分析儀
    
          
        XTU-4C涂鍍層厚度分析儀
        
          涂鍍層厚度分析儀：微聚焦加強型X射線裝置：可測試各類極微小的樣品，即使檢測面積為0.002mm2的樣品也可輕松，精準檢測。變焦裝置及位置補償算法：可對各種異形凹槽件進行無損檢測，凹槽深度范圍0-30mm.自主研發的EFP算法：多層元素，各種元素及有機物，甚至有同種元素在不同層也可精準測量。
          
        
          更新時間：2025-03-13型號：XTU-4C訪問量：136
          
    
          
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